TY  - RPRT
TI  - Single in situ Interface Characterization Composed of Niobium and a Selectively Grown (Bi$_{1-x}$Sb$_x$)$_2$Te$_3$ Topological Insulator Nanoribbon
AU  - Kevin Janßen
AU  - Philipp Rüßmann
AU  - Sergej Liberda
AU  - Michael Schleenvoigt
AU  - Xiao Hou
AU  - Abdur Rehman Jalil
AU  - Florian Lentz
AU  - Stefan Trellenkamp
AU  - Benjamin Bennemann
AU  - Erik Zimmermann
AU  - Gregor Mussler
AU  - Peter Schüffelgen
AU  - Claus-Michael Schneider
AU  - Stefan Blügel
AU  - Detlev Grützmacher
AU  - Lukasz Plucinski
AU  - Thomas Schäpers
PY  - 2023
UR  - https://arxiv.org/abs/2312.07325
ID  - 2312.07325
ER  -