TY  - RPRT
TI  - Time-Dependent Dielectric Breakdown on Subnanometer EOT nMOS FinFETs
AU  - Pedro C. Feijoo
AU  - Thomas Kauerauf
AU  - María Toledano-Luque
AU  - Mitsuhiro Togo
AU  - Enrique San Andrés
AU  - Guido Groeseneken
PY  - 2024
DO  - 10.1109/tdmr.2011.2180387
UR  - https://arxiv.org/abs/2402.00886
ID  - 2402.00886
ER  -