TY  - RPRT
TI  - Characterization of NbTiN films with thicknesses below 20 nm for low power kinetic inductance amplifiers
AU  - A. Giachero
AU  - M. R. Vissers
AU  - J. D. Wheeler
AU  - M. Malnou
AU  - J. E. Austermann
AU  - J. Hubmayr
AU  - A. Nucciotti
AU  - J. N. Ullom
AU  - J. Gao
PY  - 2024
DO  - 10.1109/tasc.2023.3253069
UR  - https://arxiv.org/abs/2402.11720
ID  - 2402.11720
ER  -