TY  - RPRT
TI  - X-ray multibeam ptychography at up to 20 keV: nano-lithography enhances X-ray nano-imaging
AU  - Tang Li
AU  - Maik Kahnt
AU  - Thomas L. Sheppard
AU  - Runqing Yang
AU  - Ken Vidar Falch
AU  - Roman Zvagelsky
AU  - Pablo Villanueva-Perez
AU  - Martin Wegener
AU  - Mikhail Lyubomirskiy
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2402.12082
ID  - 2402.12082
ER  -