TY  - RPRT
TI  - Robust single divacancy defects near stacking faults in 4H-SiC under resonant excitation
AU  - Zhen-Xuan He
AU  - Ji-Yang Zhou
AU  - Wu-Xi Lin
AU  - Qiang Li
AU  - Rui-Jian Liang
AU  - Jun-Feng Wang
AU  - Xiao-Lei Wen
AU  - Zhi-He Hao
AU  - Wei Liu
AU  - Shuo Ren
AU  - Hao Li
AU  - Li-Xing You
AU  - Jian-Shun Tang
AU  - Jin-Shi Xu
AU  - Chuan-Feng Li
AU  - Guang-Can Guo
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2402.12999
ID  - 2402.12999
ER  -