TY  - RPRT
TI  - Influence of GaN substrate miscut on the XRD quantification of plastic relaxation in InGaN
AU  - J. Moneta
AU  - M. Krysko
AU  - J. Z. Domagala
AU  - E. Grzanka
AU  - G. Muziol
AU  - M. Siekacz
AU  - M. Leszczynski
AU  - J. Smalc-Koziorowska
PY  - 2024
DO  - 10.1016/j.actamat.2024.120082
UR  - https://arxiv.org/abs/2403.02213
ID  - 2403.02213
ER  -