TY  - RPRT
TI  - TCAD Simulations of Humidity-Induced Breakdown of Silicon Sensors
AU  - Ilona-Stefana Ninca
AU  - Ingo Bloch
AU  - Ben Bruers
AU  - Vitaliy Fadeyev
AU  - Xavi Fernandez-Tejero
AU  - Callan Jessiman
AU  - John Stakely Keller
AU  - Christoph Thomas Klein
AU  - Thomas Koffas
AU  - Heiko Markus Lacker
AU  - Peilin Li
AU  - Christian Scharf
AU  - Ezekiel Staats
AU  - Miguel Ullan
AU  - Yoshinobu Unno
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2403.09550
ID  - 2403.09550
ER  -