TY  - RPRT
TI  - Extended defects as a source of phonon confinement in polycrystalline Si and Ge films
AU  - Larisa V. Arapkina
AU  - Kirill V. Chizh
AU  - Oleg V. Uvarov
AU  - Valery V. Voronov
AU  - Vladimir P. Dubkov
AU  - Mikhail S. Storozhevykh
AU  - Maksim V. Poliakov
AU  - Lidiya S. Volkova
AU  - Polina A. Edelbekova
AU  - Alexey A. Klimenko
AU  - Alexander A. Dudin
AU  - Vladimir A. Yuryev
PY  - 2024
DO  - 10.1016/j.mssp.2024.108659
UR  - https://arxiv.org/abs/2403.09679
ID  - 2403.09679
ER  -