TY  - RPRT
TI  - Probing Electrical Properties of A Silicon Nanocrystal Thin Film Using X-ray Photoelectron Spectroscopy
AU  - Amrit Laudari
AU  - Sameera Pathiranage
AU  - Salim A. Thomas
AU  - Reed J. Petersen
AU  - Kenneth J. Anderson
AU  - Todd A. Pringle
AU  - Erik K. Hobbie
AU  - Nuri Oncel
PY  - 2024
DO  - 10.1063/5.0090166
UR  - https://arxiv.org/abs/2403.14865
ID  - 2403.14865
ER  -