TY  - RPRT
TI  - Even-Odd Layer-Dependent Exchange Bias Effect in MnBi2Te4 Chern Insulator Devices
AU  - Bo Chen
AU  - Xiaoda Liu
AU  - Yu-Hang Li
AU  - Han Tay
AU  - Takashi Taniguchi
AU  - Kenji Watanabe
AU  - Moses. H. W. Chan
AU  - Jiaqiang Yan
AU  - Fengqi Song
AU  - Ran Cheng
AU  - Cui-Zu Chang
PY  - 2024
DO  - 10.1021/acs.nanolett.4c01597
UR  - https://arxiv.org/abs/2404.03032
ID  - 2404.03032
ER  -