TY  - RPRT
TI  - Precision measurements on Si-
AU  - J. Karls
AU  - H. Cederquist
AU  - N. D. Gibson
AU  - J. Grumer
AU  - M. Ji
AU  - I. Kardasch
AU  - D. Leimbach
AU  - P. Martini
AU  - J. E. Navarro Navarrete
AU  - R. Poulose
AU  - S. Rosen
AU  - H. T. Schmidt
AU  - A. Simonsson
AU  - H. Zettergren
AU  - D. Hanstorp
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2404.06226
ID  - 2404.06226
ER  -