TY  - RPRT
TI  - Interfacial reaction boosts thermal conductance of room-temperature integrated semiconductor interfaces stable up to 1100 C
AU  - Zhe Cheng
AU  - Xiaoyang Ji
AU  - Zifeng Huang
AU  - Yutaka Ohno
AU  - Koji Inoue
AU  - Yasusyohi Nagai
AU  - Yoshiki Sakaida
AU  - Hiroki Uratani
AU  - Naoteru Shigekawa
AU  - Jianbo Liang
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2404.09120
ID  - 2404.09120
ER  -