TY - RPRT TI - Testbeam results of irradiated SiGe BiCMOS monolithic silicon pixel detector without internal gain layer AU - T. Moretti AU - M. Milanesio AU - R. Cardella AU - T. Kugathasan AU - A. Picardi AU - I. Semendyaev AU - M. Elviretti AU - H. Rücker AU - K. Nakamura AU - Y. Takubo AU - M. Togawa AU - F. Cadoux AU - R. Cardarelli AU - L. Cecconi AU - S. Débieux AU - Y. Favre AU - C. A. Fenoglio AU - D. Ferrere AU - S. Gonzalez-Sevilla AU - L. Iodice AU - R. Kotitsa AU - C. Magliocca AU - M. Nessi AU - A. Pizarro-Medina AU - J. Sabater Iglesias AU - J. Saidi AU - M. Vicente Barreto Pinto AU - S. Zambito AU - L. Paolozzi AU - G. Iacobucci PY - 2024 UR - https://arxiv.org/abs/2404.12885 ID - 2404.12885 ER -