TY  - RPRT
TI  - Near-Optimal Wafer-Scale Reduce
AU  - Piotr Luczynski
AU  - Lukas Gianinazzi
AU  - Patrick Iff
AU  - Leighton Wilson
AU  - Daniele De Sensi
AU  - Torsten Hoefler
PY  - 2024
DO  - 10.1145/3625549.3658693
UR  - https://arxiv.org/abs/2404.15888
ID  - 2404.15888
ER  -