TY  - RPRT
TI  - StyleX: A Trainable Metric for X-ray Style Distances
AU  - Dominik Eckert
AU  - Christopher Syben
AU  - Christian Hümmer
AU  - Ludwig Ritschl
AU  - Steffen Kappler
AU  - Sebastian Stober
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2405.14718
ID  - 2405.14718
ER  -