TY  - RPRT
TI  - Structural changes in Ge1-xSnx and Si1-x-yGeySnx thin films on SOI substrates treated by pulse laser annealing
AU  - Oliver Steuer
AU  - Daniel Schwarz
AU  - Michael Oehme
AU  - Florian Bärwolf
AU  - Yu Cheng
AU  - Fabian Ganss
AU  - René Hübner
AU  - René Heller
AU  - Shengqiang Zhou
AU  - Manfred Helm
AU  - Gianaurelio Cuniberti
AU  - Yordan M. Georgiev
AU  - Slawomir Prucnal
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2406.09149
ID  - 2406.09149
ER  -