TY  - RPRT
TI  - Pattern or Artifact? Interactively Exploring Embedding Quality with TRACE
AU  - Edith Heiter
AU  - Liesbet Martens
AU  - Ruth Seurinck
AU  - Martin Guilliams
AU  - Tijl De Bie
AU  - Yvan Saeys
AU  - Jefrey Lijffijt
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2406.12953
ID  - 2406.12953
ER  -