TY  - RPRT
TI  - Data-driven Modeling in Metrology -- A Short Introduction, Current Developments and Future Perspectives
AU  - Linda-Sophie Schneider
AU  - Patrick Krauss
AU  - Nadine Schiering
AU  - Christopher Syben
AU  - Richard Schielein
AU  - Andreas Maier
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2406.16659
ID  - 2406.16659
ER  -