TY  - RPRT
TI  - Multiparameter admittance spectroscopy for investigating defects in MoS${_2}$ thin film MOSFETs
AU  - Eros Reato
AU  - Ardeshir Esteki
AU  - Benny Ku
AU  - Zhenxing Wang
AU  - Michael Heuken
AU  - Max C. Lemme
AU  - Olof Engström
PY  - 2024
DO  - 10.1109/ted.2025.3527413
UR  - https://arxiv.org/abs/2407.07783
ID  - 2407.07783
ER  -