TY  - RPRT
TI  - Determination of five-parameter grain boundary characteristics in nanocrystalline Ni-W by Scanning Precession Electron Diffraction Tomography
AU  - E. F. Rauch
AU  - Patrick Harrison
AU  - Saurabh Mohan Das
AU  - William Goncalves
AU  - Alessandra Da Silva
AU  - Xinren Chen
AU  - Nicola Viganò
AU  - Christian H. Liebscher
AU  - Wolfgang Ludwig
AU  - Xuyang Zhou
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2407.08251
ID  - 2407.08251
ER  -