TY  - RPRT
TI  - Toward a universal characterization methodology for conversion gain measurement of CMOS APS: application to Euclid and SVOM
AU  - Jean Le Graët
AU  - Aurélia Secroun
AU  - Marie Tourneur-Silvain
AU  - Éric Kajfasz
AU  - Jean-Luc Atteia
AU  - Olivier Boulade
AU  - Alix Nouvel de la Flèche
AU  - Hervé Geoffray
AU  - William Gillard
AU  - Stéphanie Escoffier
AU  - Francis Fortin
AU  - Nicolas Fourmanoit
AU  - Smaïn Kermiche
AU  - Hervé Valentin
AU  - Julien Zoubian
PY  - 2024
DO  - 10.1117/12.3020095
UR  - https://arxiv.org/abs/2409.03374
ID  - 2409.03374
ER  -