TY  - RPRT
TI  - Benchmarking the integration of hexagonal boron nitride crystals and thin films into graphene-based van der Waals heterostructures
AU  - Taoufiq Ouaj
AU  - Christophe Arnold
AU  - Jon Azpeitia
AU  - Sunaja Baltic
AU  - Julien Barjon
AU  - Jose Cascales
AU  - Huanyao Cun
AU  - David Esteban
AU  - Mar Garcia-Hernandez
AU  - Vincent Garnier
AU  - Subodh K. Gautam
AU  - Thomas Greber
AU  - Said Said Hassani
AU  - Adrian Hemmi
AU  - Ignacio Jimenéz
AU  - Catherine Journet
AU  - Paul Kögerler
AU  - Annick Loiseau
AU  - Camille Maestre
AU  - Marvin Metzelaars
AU  - Philipp Schmidt
AU  - Christoph Stampfer
AU  - Ingrid Stenger
AU  - Philippe Steyer
AU  - Takashi Taniguchi
AU  - Bérangère Toury
AU  - Kenji Watanabe
AU  - Bernd Beschoten
PY  - 2024
DO  - 10.1088/2053-1583/ad96c9
UR  - https://arxiv.org/abs/2409.03652
ID  - 2409.03652
ER  -