TY  - RPRT
TI  - Preventing overfitting in infrared ellipsometry using temperature dependence: fused silica as a case study
AU  - Shenwei Yin
AU  - Jin-Woo Cho
AU  - Demeng Feng
AU  - Hongyan Mei
AU  - Tanuj Kumar
AU  - Chenghao Wan
AU  - Yeonghoon Jin
AU  - Minjeong Kim
AU  - Mikhail A. Kats
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2409.05323
ID  - 2409.05323
ER  -