TY  - RPRT
TI  - Defect detection and size classification in CdTe samples in 3D
AU  - M. Väänänen
AU  - M. Kalliokoski
AU  - R. Turpeinen
AU  - M. Bezak
AU  - P. Luukka
AU  - A. Karjalainen
AU  - A. Karadzhinova-Ferrer
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2409.18555
ID  - 2409.18555
ER  -