TY  - RPRT
TI  - Measuring vacancy-type defect density in monolayer semiconductors
AU  - Aleksandar Radic
AU  - Nick von Jeinsen
AU  - Vivian Perez
AU  - Ke Wang
AU  - Min Lin
AU  - Boyao Liu
AU  - Yiru Zhu
AU  - Ismail Sami
AU  - Kenji Watanabe
AU  - Takashi Taniguchi
AU  - David Ward
AU  - Andrew Jardine
AU  - Akshay Rao
AU  - Manish Chhowalla
AU  - Sam Lambrick
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2409.18637
ID  - 2409.18637
ER  -