TY  - RPRT
TI  - Statistical Analysis of Spurious Dot Formation in SiMOS Single Electron Transistors
AU  - Kuan-Chu Chen
AU  - Clement Godfrin
AU  - George Simion
AU  - Imri Fattal
AU  - Stefan Kubicek
AU  - Sofie Beyne
AU  - Bart Raes
AU  - Arne Loenders
AU  - Kuo-Hsing Kao
AU  - Danny Wan
AU  - Kristiaan De Greve
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2410.18546
ID  - 2410.18546
ER  -