TY  - RPRT
TI  - Label Critic: Design Data Before Models
AU  - Pedro R. A. S. Bassi
AU  - Qilong Wu
AU  - Wenxuan Li
AU  - Sergio Decherchi
AU  - Andrea Cavalli
AU  - Alan Yuille
AU  - Zongwei Zhou
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2411.02753
ID  - 2411.02753
ER  -