TY  - RPRT
TI  - Stacking Brick by Brick: Aligned Feature Isolation for Incremental Face Forgery Detection
AU  - Jikang Cheng
AU  - Zhiyuan Yan
AU  - Ying Zhang
AU  - Li Hao
AU  - Jiaxin Ai
AU  - Qin Zou
AU  - Chen Li
AU  - Zhongyuan Wang
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2411.11396
ID  - 2411.11396
ER  -