TY  - RPRT
TI  - Modeling the variability of memristive devices with hexagonal boron nitride as dielectric
AU  - Juan B. Roldan
AU  - David Maldonado
AU  - C. Aguilera-Pedregosa
AU  - F. J. Alonso
AU  - Yiping Xiao
AU  - Yaqing Shen
AU  - Wenwen Zheng
AU  - Yue Yuan
AU  - Mario Lanza
PY  - 2024
DO  - 10.1109/ted.2022.3197677
UR  - https://arxiv.org/abs/2411.13872
ID  - 2411.13872
ER  -