TY  - RPRT
TI  - A Versatile System for Photoconductance Decay Measurement Across a Wide Range of Semiconductor Materials
AU  - A. Bojtor
AU  - D. Krisztian
AU  - G. Parada
AU  - F. Korsos
AU  - S. Kollarics
AU  - G. Csosz
AU  - B. G. Markus
AU  - L. Forro
AU  - F. Simon
PY  - 2024
DO  - 10.1103/pdrr-tpcm
UR  - https://arxiv.org/abs/2411.16892
ID  - 2411.16892
ER  -