TY  - RPRT
TI  - Testbeam Characterization of a SiGe BiCMOS Monolithic Silicon Pixel Detector with Internal Gain Layer
AU  - L. Paolozzi
AU  - M. Milanesio
AU  - T. Moretti
AU  - R. Cardella
AU  - T. Kugathasan
AU  - A. Picardi
AU  - M. Elviretti
AU  - H. Rücker
AU  - F. Cadoux
AU  - R. Cardarelli
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AU  - M. Nessi
AU  - A. Pizarro-Medina
AU  - J. Saidi
AU  - M. Vicente Barreto Pinto
AU  - S. Zambito
AU  - G. Iacobucci
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2412.07606
ID  - 2412.07606
ER  -