TY  - RPRT
TI  - Study on the efficiency droop in high-quality GaN material under high photoexcitation intensity
AU  - Peng Chen
AU  - Zili Xie
AU  - Xiangqian Xiu
AU  - Dunjun Chen
AU  - Bin Liu
AU  - Hong Zhao
AU  - Yi Shi
AU  - Rong Zhang
AU  - Youdou Zheng
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2501.00336
ID  - 2501.00336
ER  -