TY  - RPRT
TI  - Detecting Defective Wafers Via Modular Networks
AU  - Yifeng Zhang
AU  - Bryan Baker
AU  - Shi Chen
AU  - Chao Zhang
AU  - Yu Huang
AU  - Qi Zhao
AU  - Sthitie Bom
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2501.03368
ID  - 2501.03368
ER  -