TY  - RPRT
TI  - Impact of impurities on leakage current induced by High-Energy Density Pulsed Laser Annealing in Si diodes
AU  - Richard Monflier
AU  - Richard Daubriac
AU  - Mahmoud Haned
AU  - Toshiyuki Tabata
AU  - François Olivier
AU  - Eric Imbernon
AU  - Markus Italia
AU  - Antonino La Magna
AU  - Fulvio Mazzamuto
AU  - Simona Boninelli
AU  - Fuccio Cristiano
AU  - Elena Bedel Pereira
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2501.07168
ID  - 2501.07168
ER  -