TY  - RPRT
TI  - Wafer-scale robust graphene electronics under industrial processing conditions
AU  - E. P. van Geest
AU  - B. Can
AU  - M. Makurat
AU  - C. Maheu
AU  - H. Sezen
AU  - M. D. Barnes
AU  - D. Bijl
AU  - M. Buscema
AU  - S. Shankar
AU  - D. J. Wehenkel
AU  - R. van Rijn
AU  - J. P. Hofmann
AU  - J. M. van Ruitenbeek
AU  - G. F. Schneider
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2501.12963
ID  - 2501.12963
ER  -