TY  - RPRT
TI  - Effect of Al2O3 on the operation of SiNX-based MIS RRAMs
AU  - A. E. Mavropoulis
AU  - N. Vasileiadis
AU  - P. Normand
AU  - C. Theodorou
AU  - G. Ch. Sirakoulis
AU  - S. Kim
AU  - P. Dimitrakis
PY  - 2025
DO  - 10.1016/j.sse.2024.109035
UR  - https://arxiv.org/abs/2502.01346
ID  - 2502.01346
ER  -