TY  - RPRT
TI  - Mutual control of critical temperature, residual resistance ratio, stress, and roughness for sputtered Nb films
AU  - E. V. Zikiy
AU  - I. A. Stepanov
AU  - S. V. Bukatin
AU  - D. A. Baklykov
AU  - M. I. Teleganov
AU  - E. A. Krivko
AU  - N. S. Smirnov
AU  - I. A. Ryzhikov
AU  - S. P. Bychkov
AU  - S. A. Kotenkov
AU  - N. D. Korshakov
AU  - J. A. Agafonova
AU  - I. A. Rodionov
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2502.03299
ID  - 2502.03299
ER  -