TY  - RPRT
TI  - Natural van der Waals canalization lens for non-destructive nanoelectronic circuit imaging and inspection
AU  - Qingdong Ou
AU  - Shuwen Xue
AU  - Weiliang Ma
AU  - Jiong Yang
AU  - Guangyuan Si
AU  - Lu Liu
AU  - Gang Zhong
AU  - Jingying Liu
AU  - Zongyuan Xie
AU  - Ying Xiao
AU  - Kourosh Kalantar-Zadeh
AU  - Xiang Qi
AU  - Peining Li
AU  - Zhigao Dai
AU  - Huanyang Chen
AU  - Qiaoliang Bao
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2502.09308
ID  - 2502.09308
ER  -