TY  - RPRT
TI  - Voltage Noise Thermometry in Integrated Circuits at Millikelvin Temperatures
AU  - G. Ridgard
AU  - M. Thompson
AU  - L. Schreckenberg
AU  - N. Deshpande
AU  - A. Cabrera-Galicia
AU  - O. Bourgeois
AU  - V. Doebele
AU  - J. Prance
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2502.16661
ID  - 2502.16661
ER  -