TY  - RPRT
TI  - Defects in the $β$-Ga$_2$O$_3$($\bar201$)/HfO$_2$ MOS system and the effect of thermal treatments
AU  - Khushabu. S. Agrawal
AU  - Paolo LaTorraca
AU  - Jonas Valentijn
AU  - Roberta Hawkins
AU  - Adam A. Gruszecki
AU  - Joy Roy
AU  - Vasily Lebedev
AU  - Lewys Jones
AU  - Robert M. Wallace
AU  - Chadwin D. Young
AU  - Paul K. Hurley
AU  - Karim Cherkaoui
PY  - 2025
DO  - 10.1063/5.0283247
UR  - https://arxiv.org/abs/2502.17112
ID  - 2502.17112
ER  -