TY  - RPRT
TI  - Quality Concerns Caused by Quality Control -- deformation of silicon strip detector modules in thermal cycling tests
AU  - Richard Salami
AU  - Luise Poley
AU  - Kirsten Affolder
AU  - Tony Affolder
AU  - Lukas Bayer
AU  - Ben Crick
AU  - Emily Duden
AU  - Ian George Dyckes
AU  - Vitaliy Fadeyev
AU  - Anne Fortman
AU  - Pavol Federic
AU  - Laura Franconi
AU  - Matthew Gignac
AU  - Shubham Gupta
AU  - John Hallford
AU  - Cole Helling
AU  - Ewan Hill
AU  - Miao Hu
AU  - Jiri Kroll
AU  - Priyanka Kumari
AU  - Carlos Lacasta
AU  - Madison Levagood
AU  - Hanlez Lopez
AU  - Len Morelos-Zaragoza
AU  - Meny Raviv Moshe
AU  - Aaron Petersen
AU  - Vicente Platero
AU  - Archa Devi Rajagopalan
AU  - Lisa Sitnikova
AU  - Carles Solaz
AU  - Urmila Soldevila
AU  - Peter Speers
AU  - Gerrit Van Nieuwenhuizen
AU  - Alex Zeng Wang
PY  - 2025
DO  - 10.1088/1748-0221/20/03/p03004
UR  - https://arxiv.org/abs/2503.03133
ID  - 2503.03133
ER  -