TY  - RPRT
TI  - Effect of surface orientation on blistering of copper under high fluence keV hydrogen ion irradiation
AU  - A. Lopez-Cazalilla
AU  - C. Serafim
AU  - J. Kimari
AU  - M. Ghaemi
AU  - A. T. Perez-Fontenla
AU  - S. Calatroni
AU  - A. Grudiev
AU  - W. Wuensch
AU  - F. Djurabekova
PY  - 2025
DO  - 10.1016/j.actamat.2024.119699
UR  - https://arxiv.org/abs/2503.12480
ID  - 2503.12480
ER  -