TY  - RPRT
TI  - Degradation of 2.4-kV $Ga_{2}O_{3}$ Schottky Barrier Diode at High Temperatures up to 500 °C
AU  - Hunter Ellis
AU  - Wei Jia
AU  - Imteaz Rahaman
AU  - Apostoli Hillas
AU  - Botong Li
AU  - Michael A. Scarpulla
AU  - Berardi Sensale Rodriguez
AU  - Kai Fu
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2503.14805
ID  - 2503.14805
ER  -