TY  - RPRT
TI  - Minimal material, maximum coverage: Silicon Tracking System for high-occupancy conditions
AU  - M. Teklishyn
AU  - L. M. Collazo Sánchez
AU  - U. Frankenfeld
AU  - J. M. Heuser
AU  - O. Kshyvanskyi
AU  - J. Lehnert
AU  - D. A. Ramírez Zaldivar
AU  - D. Rodríguez Garcés
AU  - A. Rodríguez Rodríguez
AU  - C. J. Schmidt
AU  - P. Semeniuk
AU  - M. Shiroya
AU  - A. Sharma
AU  - A. Toia
AU  - O. Vasylyev
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2503.15721
ID  - 2503.15721
ER  -