TY  - RPRT
TI  - Beyond Academic Benchmarks: Critical Analysis and Best Practices for Visual Industrial Anomaly Detection
AU  - Aimira Baitieva
AU  - Yacine Bouaouni
AU  - Alexandre Briot
AU  - Dick Ameln
AU  - Souhaiel Khalfaoui
AU  - Samet Akcay
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2503.23451
ID  - 2503.23451
ER  -