TY  - RPRT
TI  - Defect detection in III-V multijunction solar cells using reverse-bias stress tests
AU  - Aitana Cano
AU  - Iván García
AU  - Ignacio Rey-Stolle
AU  - Pablo Martín
AU  - Veronica Braza
AU  - Daniel Fernandez
PY  - 2025
DO  - 10.1016/j.solmat.2024.113286
UR  - https://arxiv.org/abs/2504.01775
ID  - 2504.01775
ER  -