TY  - RPRT
TI  - Wafer-Scale Characterization of Al/AlxOy/Al Josephson Junctions at Room Temperature
AU  - Simon J. K. Lang
AU  - Ignaz Eisele
AU  - Johannes Weber
AU  - Alexandra Schewski
AU  - Emir Music
AU  - Alwin Maiwald
AU  - Martin Heigl
AU  - Daniela Zahn
AU  - Zhen Luo
AU  - Lars Nebrich
AU  - Benedikt Schoof
AU  - Thomas Mayer
AU  - Leonhard Sturm-Rogon
AU  - Wilfried Lerch
AU  - Rui N. Pereira
AU  - Christoph Kutter
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2504.16686
ID  - 2504.16686
ER  -