TY  - RPRT
TI  - Characterisation of Crystalline Defects in 4H Silicon Carbide using DLTS and TSC
AU  - Niels Sorgenfrei
AU  - Elias Arnqvist
AU  - Yana Gurimskaya
AU  - Michael Moll
AU  - Ulrich Parzefall
AU  - Faiza Rizwan
AU  - Moritz Wiehe
PY  - 2025
DO  - 10.1088/1748-0221/20/07/c07006
UR  - https://arxiv.org/abs/2505.02671
ID  - 2505.02671
ER  -