TY  - RPRT
TI  - Investigation of Low Frequency Noise in CryoCMOS devices through Statistical Single Defect Spectroscopy
AU  - Edoardo Catapano
AU  - Anirudh Varanasi
AU  - Philippe Roussel
AU  - Robin Degraeve
AU  - Yusuke Higashi
AU  - Ruben Asanovski
AU  - Ben Kaczer
AU  - Javier Diaz Fortuny
AU  - Michael Waltl
AU  - Valeri Afanasiev
AU  - Kristiaan De Greve
AU  - Alexander Grill
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2505.04030
ID  - 2505.04030
ER  -