TY  - RPRT
TI  - Further Characterisation of Digital Pixel Test Structures Implemented in a 65 nm CMOS Process
AU  - Gianluca Aglieri Rinella
AU  - Nicole Apadula
AU  - Anton Andronic
AU  - Matias Antonelli
AU  - Mauro Aresti
AU  - Roberto Baccomi
AU  - Pascal Becht
AU  - Stefania Beole
AU  - Marcello Borri
AU  - Justus Braach
AU  - Matthew Daniel Buckland
AU  - Eric Buschmann
AU  - Paolo Camerini
AU  - Francesca Carnesecchi
AU  - Leonardo Cecconi
AU  - Edoardo Charbon
AU  - Giacomo Contin
AU  - Dominik Dannheim
AU  - Joao de Melo
AU  - Wenjing Deng
AU  - Antonello di Mauro
AU  - Jan Hasenbichler
AU  - Hartmut Hillemanns
AU  - Geun Hee Hong
AU  - Artem Isakov
AU  - Hangil Jang
AU  - Antoine Junique
AU  - Minjung Kim
AU  - Alex Kluge
AU  - Artem Kotliarov
AU  - Filip Křížek
AU  - Lukas Lautner
AU  - Sanghoon Lim
AU  - Magnus Mager
AU  - Davide Marras
AU  - Paolo Martinengo
AU  - Silvia Masciocchi
AU  - Marius Wilm Menzel
AU  - Magdalena Munker
AU  - Francesco Piro
AU  - Alexandre Rachevski
AU  - Karoliina Rebane
AU  - Felix Reidt
AU  - Roberto Russo
AU  - Isabella Sanna
AU  - Valerio Sarritzu
AU  - Serhiy Senyukov
AU  - Walter Snoeys
AU  - Jory Sonneveld
AU  - Miljenko Šuljić
AU  - Peter Svihra
AU  - Nicolas Tiltmann
AU  - Vittorio Di Trapani
AU  - Gianluca Usai
AU  - Jacob Bastiaan Van Beelen
AU  - Mirella Dimitrova Vassilev
AU  - Caterina Vernieri
AU  - Anna Villani
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2505.05867
ID  - 2505.05867
ER  -